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            冶金

            化工儀器網(wǎng)>行業(yè)應(yīng)用 >鋼鐵/金屬檢測(cè)>鋼鐵檢測(cè)>鋼材檢測(cè)>正文

            使用 ICP-OES 測(cè)定金屬樣品中的硅元素

            檢測(cè)樣品:金屬

            檢測(cè)項(xiàng)目:硅元素

            方案概述:本文介紹了一種使用ICP-OES測(cè)定金屬樣品基體中,氫氟酸介質(zhì)下硅元素的方法,采用了安捷倫無(wú)硅涂層的耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng),克服了常規(guī)ICP-OES分析氫氟酸介質(zhì)空白值高的缺點(diǎn),獲得了較低的空白值,適合于測(cè)定多種金屬基體中不同含量范圍的硅元素。

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            更新時(shí)間2022年09月21日

            上傳企業(yè)安捷倫科技(中國(guó))有限公司

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            本文介紹了一種使用 ICP-OES 測(cè)定金屬樣品基體中,氫氟酸介質(zhì)下硅元素的方法,采用了安捷倫無(wú)硅涂層的耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng),克服了常規(guī) ICP-OES 分析氫氟酸介質(zhì)空白值高的缺點(diǎn),獲得了較低的空白值,適合于測(cè)定多種金屬基體中不同含量范圍的硅元素。

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